ARCH效应的识别通常是对于残差项中是否存在自回归条件异方差现象的拉格朗日检验（Lagrange multiplier test,Engle 1982）[8]。 输入命令ls lp c lp(-1) le(-3) 再点击“View”——“Residual Tests”——“ARCH LM Test”，滞后阶数从1逐渐增大。 滞后一阶时： 图3-19 ARCH测试滞后一阶 0.078975>0.05，0.078640>0.05，滞后一期时不存在ARCH效应。 滞后期为二： 图3-20 ARCH测试滞后二阶 lag为3: 图3-21 ARCH测试滞后三阶 lag为4: 图3-22 ARCH测试滞后四阶 lag为5: 图3-23 ARCH测试滞后五阶 由上面的图形得知滞后期为4时的ARCH效应最明显。 既然存在ARCH效应，接下来我们就可以建立GARCH模型。  

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